Instrumentos, máquinas y aparatos para medida o control, no expresados ni comprendidos en otra parte de este Capítulo; proyectores de perfiles
Máquinas para equilibrar piezas mecánicas
Bancos de pruebas
Para control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados), o para control de máscaras fotográficas o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
Los demás
Proyectores de perfiles
Los demás
Los demás instrumentos, aparatos y máquinas
Para medida o control de magnitudes geométricas
Los demás
Partes y accesorios